| 摂南大学 理工学部 電気電子工学科 | |||||||||||||
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| SEC Video Library, SST_LAB 2008年度 修士学位論文 「スパッタ深さ方向分析の高分解能化に関する研究」 講演者：井上 公介 （2009.2.25，10号館プチテアトル） 摂南大学大学院 工学研究科 電気電子工学専攻 表面物性工学研究室 （14分21秒）  論文要旨表面分析と標準化の国際ワークショップ iSAS-09（2009.3.15-18，宜野湾市，沖縄コンベンションセンター）にてポスター発表 「Oxygen Enhanced Surface Roughening of Si(111) Induced by Low-energy Xe+ Ion Sputtering」 第４回 実用表面分析国際会議 PSA-07（2007,11,25-28,金沢市, 石川県立音楽堂）にてポスター発表 「Oxygen Effects on the Secondary Electron Emission from Si Surface Induced by Low Energy He+ and Xe+ Ions」（ １分間ショートプレゼンの様子） |
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