| 摂南大学 理工学部 電気電子工学科 | |||||||||||||
|
|||||||||||||
| 4th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials & Devices, ALC '03, October 5 - 10, 2003, Kauai, Hawaii, USA " High Resolution Auger Depth Profiling by Sub-keV Ion Sputtering " M. Inoue1, R. Shimizu2, H.I. Lee3 and H.J. Kang3 1Department of Electric & Electronics Engineering, Setsunan University, Japan 2Faculty of Information Science & Technology, Osaka Institue of Technology, Japan 3Department of Physics, Chungbuk National University, Korea，（15分32秒） |
|||||||||||||
2003年10月にハワイ州カウアイ島で「新材料新デバイスの原子レベル分析 国際会議, ALC '03」が開催されました。写真は  こちらこのビデオの音声部分は，Mac OSX ver.10.4 Tiger の say コマンド（読み上げソフト）を使ってテキストファイルから合成したものです。( Kathy voice ) Sound of this video was synthesized from text file by "say" command of Mac OSX ver.10.4 Tiger ( Kathy voice ) |
|||||||||||||
| 2003.10 摂南大学 工学部 電気電子工学科 井上雅彦 | |||||||||||||
|
|
||||||
| Copyright c 2012-2022 Electrical and Electronic Engineering, Setsunan University, All rights reserved. | ||||||
|
||||||
