摂南大学　理工学部　電気電子工学科

SEC Video Library, その他
「 Measurement of Secondary Electron Yield by Charge Amplification Method」

第５回実用表面分析国際シンポジウム, PSA-10,（ポスター講演者のための１分間ショートプレゼンテーション）
P-001 摂南大学大学院工学研究科表面物性工学研究室修士課程２年宮川拓也，　
（2010.10.03-07，ホテル現代慶州，韓国）（撮影に失敗し，残念ながら 8秒だけ。）

5^th International Symposium on Practical Surface Analysis, PSA-10, 2010.10.03-07, Hotel Hyundai, Geongju, Korea
" P-001 Measurement of Secondary Electron Yield by Charge Amplification Method "
T. MIYAGAWA*, M. INOUE, T. Iyasu, Y. Hashimoto, K. Goto, R. Shimizu, and T. Nagatomi

Poster No.P-001 presented by Takuya MIYAGAWA (M2)

講演会場の様子。もう一部屋あってパラレルセッションでした。

１分間ショートプレゼンの様子(M2 宮川氏)